به روزشده : ۴ دقیقه قبل
زمان انتشار: ۵:۴ - ۱۳۸۹/۱/۱۶ | نسخه چاپی

میکروسکوپی برای دیدن تک تک اتم‌ها

فناوری - محققان با استفاده از تکنیک اصلاح انحراف در میکروسکوپ‌های تونلی روبشی موفق شده‌اند با حداقل مصرف انرژی، تصاویری با وضوح بالا از اتم‌های منفرد سبک مانند اکسیژن و کربن تهیه کنند.

محبوبه عمیدی: محققان آزمایشگاه ملی اوک‌ریج وابسته به وزارت انرژی ایالات متحده، با استفاده از روش اصلاح انحراف در میکروسکوپ الکترونی تونلی روبشی یا به اختصار (STEM) موفق شده‌اند، اولین تصاویر واضح از اتم‌‌های منفرد بور، کربن، نیتروژن و اکسیژن را در تاریخ علم به ثبت برسانند.

اتم‌های بور، کربن، نیتروژن و اکسیژن که به ترتیب با اعداد اتمی 5 تا 8 از سبک‌ترین اتم‌های جدول تناوبی به‌شمار می‌روند، به شکل محلول در لایه‌ای از نیترید بور و توسط تکنیک تصویربرداری Z-Contrast تصویربرداری شده‌اند. 

به گزارش ساینس دیلی، استیفن پنی‌کوک، محقق علم مواد و یکی از اعضای این گروه می‌گوید: «این هم دستاورد دیگری از به کارگیری تکنیک اصلاح انحراف در میکروسکوپ‌های عبوری روبشی است، اولین تجربه شناسایی اتم‌های منفرد در مواد غیرتناوبی که برای علم شیمی بسیار باارزش است».

این تکنیک تصویر‌برداری با وضوح بالا، به محققان علم مواد اجازه می‌دهد هر مولکول را اتم به اتم تحلیل کنند و تصویر دقیقی از ساختار شیمیایی مواد به دست آورند. می‌شود با این تکنیک به عیوب ساختاری ماده پی برد و به عنوان مثال ناخالصی‌ها یا مولکول‌هایی را که عامل خصوصیات رفتاری خاصی در ماده هستند، کشف کرد.

اتم های منفرد

توضیح عکس: تفاوت وضوح تصویر بالا و پایین کاملا معنی‌دار است. در تصویر b که حاصل استفاده از تکنیک اصلاح انحراف در تصویر a است، می‌توان به وضوح اتم‌های منفرد نیتروژن -دایره‌های روشن‌تر در گوشه‌های شش‌ضلعی مشخص‌شده توسط دایره سبز- و بور -دایره‌های تیره‌تر درون همان دایره- را تماشا کرد.

این گروه نمونه مولکولی شش‌ضلعی و تک‌لایه‌ای از نیترید بور را که توسط دانشگاه آکسفورد آماده شده به وسیله تکنیک یاد‌شده، تحلیل کرده و توانسته است سه گروه جانشینی را در آن مشاهده کند. جانشینی اتم‌های کربن به جای اتم‌های بور و نیتروژن و جانشینی اتم‌های اکسیژن به جای اتم‌های نیتروژن.

این تحلیل با استفاده از میکروسکوپ Nion UltraSTEM  یکصدهزارولت که روی شرایط بهینه 60 هزارولت تنظیم‌ شده، انجام گرفته است.

اصلاح انحراف محاسباتی که می‌تواند نقص‌های اپتیکی لنزها و اثر عوامل محیطی را به حداقل برساند، با پیشرفت‌های کنونی باعث‌شده شرایط برای ثبت تصاویر بهینه شود و شاهد وضوح بهتری در حداقل ولتاژ مورد استفاده باشیم.

پنی‌کوک می‌گوید: «تصویربرداری از نمونه در حالت 60 هزارولت، آسیب به آنرا در زمان جابجایی اتم‌ها به حداقل می‌رساند. این تجربه‌ای نیست که بتوان در ولتاژ بالای 80 هزارولت به آن دست یافت».

استفاده از این تکنیک و تهیه تصاویری منفرد از اتم‌ها، آن‌هم با وضوح بالا نه تنها می‌تواند ابزار مؤثری برای شبیه‌سازی محاسباتی دقیق‌تر، صحیح‌تر و در نتیجه پیش‌بینی بهتر رفتار مولکول‌های پیچیده در اختیار محققان نانوفناوری، شیمی‌دانان و نظریه‌پردازان قرار دهد، بلکه با مصرف بهینه انرژی، انجام این تحقیقات را ساده‌تر و به مراتب کم‌هزینه‌تر خواهد کرد.

زمان انتشار: ۵:۴ - ۱۳۸۹/۱/۱۶ | نسخه چاپی

اخبار مرتبط

ارسال نظر
ارسال خبر به دیگران
نام
پست الکترونیک
نمایش داده شود
آدرس وبسایت یا وبلاگ
نظرشمــا     0/700
همزمان با تأیید انتشار نظر من، به من اطلاع داده شود.
اظهارنظرهای اشخاص درباره نظر من، به ایمیل من ارسال شود.
.خبرآنلاین نظراتی را كه حاوی توهین است، منتشر نمی كند * .لطفا از نوشتن نظرات خود به صورت حروف لاتین (فینگلیش) خودداری نمایید *
: لطفا حاصل عبارت را در باکس مقابل وارد نمایید
= 2 + 3
ارسال نظر
52468
نام شما
ايميل شما
ايميل گيرنده
توضيحات
: لطفا حاصل عبارت را در باکس مقابل وارد نمایید
= 2 + 3
ارسال خبر